Mikrorisse ohne sichtbaren Glasschaden: Restleistung beurteilen
09.10.2026
Ein unbeschädigt wirkendes Glas schließt Zellrisse nicht aus – und ein Rissbild allein beziffert keinen Ertragsverlust. Für die Restleistung zählen elektrisch aktive Zellbereiche, eine geeignete Bilddiagnostik und eine elektrische Leistungsmessung im Zusammenhang.
Kein Glasschaden ist keine Entwarnung
Ein PV-Modul kann äußerlich unauffällig wirken und trotzdem Zellrisse enthalten. Sie betreffen das Silizium in der Zelle, nicht zwingend die Glasscheibe. Fraunhofer beschreibt Risse als mögliche Folge sowohl von Eigenspannungen aus der Herstellung als auch von mechanischen und Umweltbelastungen im Betrieb. Die Größenordnung kann unterhalb dessen liegen, was sich an der Moduloberfläche erkennen lässt: Ein Fraunhofer-IPA-Verfahren für die Fertigung detektiert laut Institut Risse unter 20 Mikrometern in der Siliziumschicht. Das ist ein Befund zu einer speziellen Waferprüfung, keine Aussage, dass jedes montierte Modul so geprüft oder jeder feine Riss ertragsrelevant wäre. [Fraunhofer IPA](https://www.ipa.fraunhofer.de/de/aktuelle-forschung/bild--und-signalverarbeitung/zerstoerungsfreie-pruefung/thermographie/mikrorisspruefung-am-beispiel-von-solarzellen.html)
Ein Rissbild ist noch keine Verlustzahl
Für die Restleistung ist nicht allein entscheidend, ob ein Riss vorhanden ist, sondern welche Zellbereiche elektrisch noch mitarbeiten und wie der Befund das Modul als Ganzes beeinflusst. Ein Foto oder eine einzelne Risslinie liefert deshalb für sich genommen keinen belastbaren Prozentwert zum Ertragsverlust. Fraunhofer IMWS weist darauf hin, dass Risse Leistung und Lebensdauer mindern können, zugleich aber allgemein anerkannte Kriterien für die Risikobewertung und Prognose ihrer Folgen fehlen. Ein seriöser Befund sollte Beobachtung und Messwert trennen: erst beschreiben, was sichtbar beziehungsweise im Prüfverfahren erkennbar ist, danach elektrische Auswirkungen messen. [Fraunhofer IMWS](https://www.imws.fraunhofer.de/de/kompetenzfelder/photovoltaik/highlights/klassifizierung-zellrisse-mikrorisse-pvriss.html)
Modulprüfung: Bilddiagnostik und Leistung zusammenführen
Bei der Elektrolumineszenz wird ein Modul mit Prüfstrom angeregt; die elektrisch aktiven Bereiche senden Licht aus, das mit geeigneten Sensoren erfasst wird. Risse oder Verbinderbrüche können so als Muster sichtbar werden. Gerade das erklärt auch die Grenze der Methode: Ein dunkler Bereich ist zunächst ein Hinweis auf fehlende oder schwache elektrische Aktivität im Bild, nicht automatisch eine eindeutige Erklärung für Ursache, Restleistung oder Sicherheitsrisiko. Für innere Risse verweist Fraunhofer IPA ebenfalls auf EL oder Thermografie als zerstörungsfreie Alternativen, wenn einfache Durchlichtaufnahmen nicht mehr geeignet sind. Das Verfahren muss zum Modulzustand und zur Fragestellung passen. [Fraunhofer IEE](https://www.iee.fraunhofer.de/de/testzentren-und-labore/photovoltaik-systeme.html), [Fraunhofer IPA](https://www.ipa.fraunhofer.de/de/aktuelle-forschung/bild--und-signalverarbeitung/zerstoerungsfreie-pruefung/thermographie/mikrorisspruefung-am-beispiel-von-solarzellen.html)
Die elektrische Prüfung beantwortet die Leistungsfrage
Soll die Restleistung beziffert werden, braucht es zusätzlich eine elektrische Charakterisierung. Eine UI- oder IV-Kennlinie zeigt den Zusammenhang von Strom und Spannung und ermöglicht, die resultierende Modulleistung unter definierten Vergleichsbedingungen einzuordnen. Für belastbare Vergleiche müssen Messbedingungen und Referenz klar benannt sein; ein Vor-Ort-Ertrag schwankt außerdem mit Einstrahlung, Temperatur und Anlagenbetrieb. Fraunhofer IEE beschreibt Kennlinienmessungen ausdrücklich als Möglichkeit, die reale Modulleistung etwa gegenüber Datenblattangaben zu überprüfen. Bei einem strittigen Einzelfall sollten EL-Befund und Leistungsdaten deshalb gemeinsam dokumentiert und fachkundig interpretiert werden, statt aus dem Rissbild allein eine Prozentzahl abzuleiten. [Fraunhofer IEE](https://www.iee.fraunhofer.de/de/testzentren-und-labore/photovoltaik-systeme.html)
Was ein brauchbarer Befund enthalten sollte
Für Betreiber ist ein nachvollziehbarer Prüfbericht hilfreicher als das Etikett „Mikroriss vorhanden“. Sinnvoll sind die genaue Modulzuordnung, Datum und Prüfbedingungen, die Bildaufnahme mit markierter Auffälligkeit sowie eine getrennte Angabe der elektrischen Messung und ihrer Vergleichsbasis. Bei einer Überprüfung im Feld sollte zusätzlich festgehalten werden, ob andere Ursachen für einen Ertragsunterschied – etwa Verschattung oder ein Problem in der Verschaltung – mitbetrachtet wurden. Das ist besonders wichtig, weil EL-Aufnahmen neben Rissen auch andere Auffälligkeiten zeigen und Fraunhofer auf die bislang fehlende einheitliche Folgenbewertung hinweist. Eine standardisierte Nomenklatur kann die Befundbeschreibung vereinheitlichen; sie ersetzt aber keine Messung der konkreten Restleistung und keine Einzelfallbeurteilung. [Fraunhofer IMWS](https://www.imws.fraunhofer.de/de/kompetenzfelder/photovoltaik/highlights/klassifizierung-zellrisse-mikrorisse-pvriss.html)